sem模型分析的基本假定 SEM形貌分析的原理

2025-01-1121:24:58创业资讯0

探索微观世界的奥秘,是科技与好奇心的完美结合。所见的景象在微观领域下,又展现出怎样的形态呢?在面对产品的失效问题时,单纯的宏观观察往往难以捕捉问题的关键所在,需要进一步放大视角来探索其中的细节。

在现实应用中,扫描电子显微镜(SEM)被广泛运用于微观位置或微观形貌的观察。这种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的技术,通过聚焦高能电子束来扫描样品,通过与物质的相互作用,激发出各种物理信息。对这些信息进行收集、放大并再次成像,便可以实现对物质微观形貌的精确表征。

值得一提的是,扫描电子显微镜与其他分析仪器的结合使用,如X-射线能量色谱仪(EDS),使得我们不仅能看到微观形貌,还能对物质微区的成分进行深入分析。

EDS能谱分析是通过X射线光子激发Si晶体中的电子空穴对来进行成分分析的。随着入射X射线光子能量的变化,激发出的电子空穴对数量也会相应变化。通过收集这些电子空穴对并转换为电流脉冲,再经过一系列的放大和处理,最终可以得到一张按能量大小分布的X射线图谱。

北测失效分析实验室所配备的冷场发射扫描电子显微镜,拥有卓越的低加速电压成像能力。其分辨率在1kv时可达1.3nm,同时提供了广泛的放大倍数选择。实验室采用的硅漂移型探测器以及低噪音电子元器件和先进脉冲处理器,确保了在高计数率下仍能进行精确的面分析和定量分析。

利用SEM和EDS技术,我们可以精确地观察微观粒子的形态并进行分析。比如,我们可以使用SEM来观察表面镀层的开裂形态、不同材料的断口微观特征及成分。

在执行检测项目时,我们严格遵循JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》、GB/T 17359-2012《微束分析 能谱法定量分析》以及GB/T 16594-2008《微米级长度的扫描电镜测量方法通则》等行业标准。

北测实验室的优势在于其先进的设备、精湛的技术以及严谨的态度。我们致力于为客户提供最准确、最可靠的微观分析服务。

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