极片性能评估的重要性
在电池的生产流程中，极片作为关键一环，其性能的优劣直接关系到后续工序的稳定性以及电芯的性能和安全性。对极片性能的评估显得尤为重要。其中，极片电阻作为评估极片性能的重要指标，在电池的研发和生产中占据着不可替代的地位。
极片电阻的测试方法
一、实验设备及简介
1. 单探针装置：如图示a，一端固定电阻仪，另一端移动端子用于测试样品电阻。
2. 两探针装置：如图示b，将端子置于样品上下两端进行测试。
二、测试方法及分析
1. 单探针法：通过一端固定、另一端移动端子来测试样品电阻。其中，可控压的单探针装置能够将一端固定在可控压设备上，通过MRMS软件设置相关参数进行测试，自动读取极片厚度、电阻、电阻率、电导率等数据。
2. 对比分析：
- 控压与未控压对比：实验数据显示，使用可控压单探针装置测试的极片电阻稳定性更好。未控压的单探针法由于无法固定压力，每次测试的接触电阻不同，导致误差较大。
- 不同测试方法对比：对于箔材和极片而言，电阻率的比较通常为单探针法 > 两探针法 > 四探针法。
极片电阻测试的深度解析
1. 单探针法的电子传输路径：电子从涂层传向涂层与集流体的界面，再传向集流体，最后经过横向的集流体传向测试电极的另一端。这一过程比两探针法多了一项横向集流体的电子传输。
2. 四探针法的优势与局限性：四探针法通过分离的电流和电压电极消除了布线和探针接触电阻的阻抗，测出的电阻率的绝对值通常是最小的。但其在电池实际应用中，由于基底材料和涂层的影响，所测得的电阻可能无法全面反映极片的真实情况。
3. 两探针法的应用考量：虽然两探针法的测试结果包括探针与涂层的接触电阻，但其测试过程电子传导路径与实际电池应用时基本相同。在考虑实际极片的应用及测试操作便利性时，建议选择两探针法来测试极片的穿透内阻。
总结与建议